更新時(shí)間:2025-03-09 11:26:00作者:貝語(yǔ)網(wǎng)校
EELS是電子能量損失譜(Electron Energy Loss Spectroscopy)的簡(jiǎn)稱。這是一種在材料科學(xué)、納米科學(xué)和納米技術(shù)、生物學(xué)、地球科學(xué)和環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域廣泛使用的分析技術(shù)。它通過(guò)測(cè)量電子在樣品中的能量損失來(lái)揭示樣品中元素的化學(xué)態(tài)和晶體結(jié)構(gòu)等信息。
1. electron energy-loss spectroscopy (EELS)
2. electron energy-loss function (EELF)
3. electron energy-loss angle distribution (EELAD)
4. electron energy-loss spectrum (EELS spectrum)
5. electron microscopy
6. transmission electron microscopy (TEM)
7. scanning transmission electron microscopy (STEM)
8. high-angle annular dark field (HAADF)
9. annular dark field (ADF)
10. bright field (BF)
11. dark field (DF)
12. high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM)
13. scanning electron microscopy (SEM)
14. electron diffraction (ED)
這些短語(yǔ)在材料科學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域中經(jīng)常使用,用于研究電子能量損失、電子能量分布、電子顯微鏡成像等方面的內(nèi)容。